| XJP-209系列金相显微镜适用于对不透明或透明物体的显微观察。广泛应用于机械、矿产业进行金属、岩矿等的组织鉴定，电子半导体工业进行晶体、集成电路的检验和科学研究 进行金属、岩矿等的组织鉴定，电子半导体工业进行晶体、集成电路的检验和科学研究。是生物 学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
本仪器配置落射与透射照明系统、无限远长距平场金相物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好、造型美观、操作方便等特点，适用于学校、科研、工厂等部门使用。
技术参数：
1、 放大倍数:40X—1000X；
2、 目镜: 大视场高眼点目镜WF10×；
WF10×／十字分划（0.1mm）；
3、 长距平场金相物镜： 4X/0.1;10X/0.25;20X/0.40；40X/0.66；
4、 机架：人机一体化机架，低手位操作；
5、 落射光源：12V/20W卤素灯，亮度可调；
6、 镜筒组:铰链式三目镜组，30°倾斜，瞳距调节55～ 75mm;
7、 物镜转换器：内倾式内定位四孔转换器；
8、 载物台:机械移动载物台，面积160 mm×130 mm，移动范围70mm×50mm，游标刻度0.1mm游标尺；
9、 调焦机构：粗微动同轴式调焦且低手位操作, 行程25mm，微调精度2um，设有防下滑装置及粗调松紧装置，配有调焦上限位装置； |
